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画像処理 検査・計測

1987年に独自ブランドの画像処理検査装置を発売して以来、機能向上と用途の拡大を図り、現在では、「ICパッケージ検査システム」「原子間力顕微鏡・その他測定装置」「フラットパネルディスプレイ検査装置」「フィルム検査装置」「電池関連部材」などのハイテク製品を数多くラインナップしております。

主要製品

  • 外観検査装置


    テレビやスマートホン用の液晶パネル製造工程で、パターン付き基板の自動検査・欠陥判定をし、量産の品質工程管理を行う装置です。

  • 原子間力顕微鏡(AFM)


    原子間力顕微鏡は、高精度に膜圧・表面の粗さ等の測定が可能な三次元計上測定装置です。分析用途はもちろん、品質管理・検査ツールとして製造ラインでの運用が可能です。

  • フィルム検査装置


    ラインセンサーを用いた光学式の検査装置です。高性能カメラを生かした高速検査でこれから厳しさを増す品質管理に最適です。エレクトロニクス分野、包装分野、エネルギー分野など様々な業界で実績が有り、携帯電話・TV・太陽電池などの生産に貢献しています。

  • 太陽電池ウェハ、セルクラック検査装置


    レーザー光を用い、太陽電池ウエハ、セルのクラックを高速に検査し、多結晶シリコンの粒界模様もキャンセルすることが可能です。そのため、クラックトレンド管理、yieldアップなど、結晶系太陽電池の重要な工程管理装置になります。

タカノのシステム力が、検査にとどまらない新たなプロセス管理を提案します

タカノは、外観検査システムのトータルメーカーとして、お客さまのラインコンセプトに対応した検査・計測装置をカスタマイズにより提供し、理想の生産ラインを実現します。
現在の製造プロセスでは歩留まり改善や品質管理が非常に重要な課題となっており、検査装置には生産ライン全体を管理できる「システム力」が必須となっています。当社ではこのシステム力に欠かすことのできない「画像処理」「光学」「微細計測」、そして「システム構築」の4つのコア技術を独自の技術として長年にわたり追求し開発してきました。お客さまのニーズに応じた最適なシステムを提供するため、これらの技術を駆使し、お客さまへの提案から装置導入後の改造・アフターサービスまで広くサポートします。
フラットパネルのプロセスをはじめ、半導体やPCB、次世代エネルギーなどさまざまな分野で当社の検査装置の活躍の場をいただいておりますが、みなさまから私どもに寄せられる厚い信頼は、これらの商品がもたらしてきた高い付加価値を裏付けるものと確信しています。これらもお客さまのニーズに応えるために、タカノでは一つ先の未来を見つめて挑戦し続けます。

  • 画像処理 検査・計測に関するお問い合わせ

タカノ株式会社 画像計測部門

〒101-0041 東京都千代田区神田須田町1-13
TEL.03-3253-8261

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